hot carrier2 반도체 신뢰성 hot carrier effect는 회로에 어떤 영향을 주는가 section 2 Electron이 gate oxide에 trapping되어 발생하는 hot carrier 현상이 회로 동작에서 어떤 영향을 미치는지 간단하게 알아볼 수 있습니다. 바로 invertor 동작에서 확인이 가능합니다. 위 그림에서 hot carrier 발생 영역이라고 표기한 부분은 invertor에서 NMOSFET이 켜질 때입니다. 즉 NMOSFET이 적절한 timing에서 켜지지 못하면 Vout의 감소 level의 timing에 변화가 생기게 됩니다. 아래 그림에서 알 수 있듯이, NMOSFET이 적절한 타이밍에 켜지지 않기 때문에 Vout의 감소 timing에 차이가 발생함을 알 수 있습니다. 역으로 Vout에서 해당 시간에 0을 만들어야 하는데, NMOSFET의 hot carrier 열화로 특정 timi.. 2020. 4. 21. 반도체 신뢰성 hot carrier effect에 대하여. section 1 반도체 소자 신뢰성을 평가하기 위해서는 기본적으로 어떤 상황에서 왜 생기는지 이해를 해야 열화 현상에 대해서 분석하고 해결하는 의미를 찾을 수가 있습니다. 본 포스팅에서는 hot carrier effect라고 불리는 열화 현상에 대해서 어떤 상태에서 생기고, 발생했을 때 어떤 문제가 있는지 설명하도록 하겠습니다. -.Hot carrier effect란? 지난 포스트(https://tech-goodtohear.tistory.com/25)에서 설명했던 것처럼 열화 현상은 특정 전류 특성이 시간이 지남에 따라 변화되는 현상입니다. 아래 그래프에서 검정색 선이 기존에 잘 만들어진 반도체 특성이라고 한다면, 특정 시간이 지난 후에 오른쪽 그림의 빨간색 선처럼 변화되는 현상이 바로 열화 현상이라고 할 수 있습니다... 2020. 4. 20. 이전 1 다음
